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Ricerca: VID = BVEV033039

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	1.	*Low noise data acquisition system for the monitoring of the curent tunneling through thin oxide layers in mos devices / G. Basso ... [et al.] Pisa : ETS, 1998 Monografia - Testo a stampa [BP00016933] Rimuovi da preferiti Aggiungi a preferiti
	2.	*Low frequency noise and failure mechanism in microelectronics devices / G. Basso ... [et al.] Pisa : ETS, 1999 Monografia - Testo a stampa [BP00016932] Rimuovi da preferiti Aggiungi a preferiti
	3.	Basso, Giovanni *Esercizi di Elettronica 1 / Giovanni Bassi Pisa : SEU, [2005] Monografia - Testo a stampa [BP00018602] Rimuovi da preferiti Aggiungi a preferiti
	4.	Neri, Bruno *Appunti di strumentazione elettronica / Bruno Neri, Giovanni Basso. Pisa : SEU, [2008] Monografia - Testo a stampa [BP00019274] Rimuovi da preferiti Aggiungi a preferiti
	5.	Neri, Bruno *Appunti di strumentazione elettronica / Bruno Neri, Giovanni Basso. Pisa : SEU, [2008] Monografia - Testo a stampa [BP00019356] Rimuovi da preferiti Aggiungi a preferiti
	6.	Neri, Bruno *Appunti di strumentazione elettrica / Bruni Neri, Giovanni Basso Pisa : SEU, [2006] Monografia - Testo a stampa [BP00018742] Rimuovi da preferiti Aggiungi a preferiti
	7.	Neri, Bruno *Appunti di strumentazione elettronica / Bruno Neri, Giovanni Basso. Pisa : SEU, [2009] Monografia - Testo a stampa [BP00037657] Rimuovi da preferiti Aggiungi a preferiti

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